色差儀根據(jù)測量幾何條件的不同,在測量結(jié)構(gòu)上可以分為不同的類型,常見的就是d/8結(jié)構(gòu)的積分球色差儀,這種結(jié)構(gòu)的色差儀測量精度較高,被廣泛的應(yīng)用于不同行業(yè)的顏色品質(zhì)管控。那么,d/8積分球色差儀測色原理是怎樣的?d/8積分球色差儀有幾種測量模式?下文將為大家進行解答。
積分球是一個內(nèi)壁涂有白色漫反射材料(漫反射系數(shù)接近于1,常用的是氧化鎂或硫酸鋇)的空腔球體,內(nèi)壁是良好的球面(要求與理想球面的偏差應(yīng)不大于內(nèi)徑的0.2%)。氧化鎂涂層在可見光譜范圍內(nèi)的光譜反射比都在99%以上,這樣,進入積分球的光經(jīng)過內(nèi)壁涂層多次反射,在內(nèi)壁上形成均勻照度。
當積分球用于顏色測量儀器時,球體會有多個開孔,結(jié)構(gòu)示意圖如下圖。具體包括光孔,用于光源進入球體;測量孔,與被測物體緊密接觸;接收器孔,在測量孔對面,一般與被測樣品表面的法線呈8°夾角,用于采集物體的反射光;鏡面反射孔,位于與接收器孔相對于法線對稱的地方,這個孔可以關(guān)閉和打開,并放置光吸收阱,用來控制鏡面反射光的采集(SPIN,Specular Included)與排除(SPEX,Specular Excluded)。
當一束輻通量為Φ(λ)的光源經(jīng)光孔進入內(nèi)球半徑為R的積分球內(nèi),經(jīng)涂層多次漫反射后,形成均勻照明。設(shè)除投射面外,其余內(nèi)壁任一點M處的總照度E(λ)可用下表示:
式中:E(λ)為M點的總光譜幅照度;ρw(λ)為積分球內(nèi)壁的光譜反射比;Φ(λ)為進入進入積分球的光譜輻通量;R為積分球內(nèi)球半徑;f為積分球開口球面面積與積分球總的內(nèi)反射表面積之比。
式中,當一束輻通量進入理想積分球后,除投射面外,球內(nèi)表面任意點的照度(包括球壁開口處球面上的照度)只是球的幾何尺寸、涂層的漫反射比、進入球的輻通量的函數(shù),而與位置無關(guān)。在顏色測量中,樣品表面的物理狀況會影響光的傳播,當表面比較光滑時,樣品光澤較高,鏡面反射光會比較強,散射會比較弱;當表面比較粗糙時,樣品光澤較低,鏡面反射光會比較弱,散射會比較強。對于相同材質(zhì)的樣品,若只是光澤差異,在包含鏡面反射狀態(tài)下測量結(jié)果應(yīng)該是一致的,這時其反映的是材質(zhì)本身的顏色,稱之為真實色;但在排除鏡面反射狀態(tài)下,樣品間的差異會比較大,數(shù)據(jù)反映的是材質(zhì)和表面物理狀況的綜合變化,稱之為表觀色。因此,積分球儀器在涂料行業(yè),以及紡織、塑料、紙張等行業(yè)被廣泛應(yīng)用。
d/8幾何結(jié)構(gòu)色差儀一般具有兩種測量模式,它們分別是SCI模式和SCE模式,具體如下:
SCI是英文Specular Component Include的縮寫,意思是包含鏡面反射光,有時也縮寫為SPIN。是指色差儀測量模式中有一個鏡面反射光來補光,用于測量樣品的光譜反射分量和反射體或漫反射分量。這種測量方式的測量結(jié)果包括物體的所有表面反射光(包括鏡面反射和漫反射),與物體表面的結(jié)構(gòu)、粗糙程度無關(guān),測量結(jié)果可以反映出物體的真實色彩,物體的光澤不會影響顏色數(shù)據(jù)的測量結(jié)果。一般用于那些研究顏色本身屬性而不關(guān)心顏色所附著的樣品表面光澤度的應(yīng)用,如油漆涂料廠等。
SCE是英文Specular Component Exclude的縮寫,意思是不包含鏡面反射光,有時也縮寫為SPEX。在測量中,光陷阱的位置是關(guān)閉的,不存在鏡面反射光來補光。該測量模式可以更好的評估樣品的顏色外觀屬性,與我們?nèi)搜塾^察感知物體的顏色大致相同,但是受物體表面結(jié)構(gòu)、粗糙程度影響較大。一般適用于那些直接被人觀測到的,要求測量結(jié)果和目視非常接近的樣品,如家電外殼等。
在上面的描述就已經(jīng)有提到了,根據(jù)不同產(chǎn)品的測量,就需要用到對應(yīng)的測量模式。首先需要注意的是含有SCI與SCE模式的色差儀一定是d/8積分球結(jié)構(gòu)的色差儀,像45/0的色差儀是沒有SCI與SCE的測量模式選擇。
SCE是測量結(jié)果要求最為接近人眼的測量效果,可用于測量產(chǎn)品的白度、黃度、顏色,可應(yīng)用于一些鈦白粉/家電外殼/汽車外殼/食品等等常常用于用戶直視的產(chǎn)品。
SCI則應(yīng)用于一些物體本質(zhì)顏色,可用于測量藥品溶液、金屬顏色、礦物顏色此類需要物品本質(zhì)屬性的測量。
啞光產(chǎn)品或者理想漫反射系列的產(chǎn)品則可不區(qū)分SCI與SCE,測量結(jié)果差別很小。
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